Петров, А. Б. Исследование поверхностных сил в полуконтактном режиме атомно-силового микроскопа [Текст] / А. Б. Петров> // Вестник Башкирского университета. - 2006. - N 4. - С. . 22-25. - Библиогр.: с. 25 (10 назв. ). - s, 2006, , rus. - RUMARS-vbau06_000_004_0022_1. - Библиотека Башкирского государственного университета. - N 4. - С. 22-25. - vbau06_000_004_0022_1, 4, 22-25
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): АСМ -- атомно-силовая микроскопия -- микроскопы -- атомно-силовые микроскопы -- поверхностные силы -- ПКР -- полуконтактный режим -- уравнения -- таблицы Аннотация: Теоретически рассмотрен вопрос об определении координатной зависимости от поверхностных сил по результатам измерений в полуконтактном режиме атомно-силового микроскопа. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Новые данные о морфогенезе огнестрельных повреждений костей [Текст] = New data on morphogenesis of gunshot injuries to the bone / А. А. Гайдаш [и др. ]> // Судебно-медицинская экспертиза. - 2010. - N 4. - С. 4-7. - Библиогр.: с. 7 (5 назв. )
Рубрики: Здравоохранение. Медицинские науки Судебная медицина Кл.слова (ненормированные): огнестрельная травма -- огнестрельный перелом -- атомно-силовая микроскопия -- растровая микроскопия -- ударно-волновой механизм разрушения Аннотация: На основании проведенных исследований с использованием атомно-силовой и растровой микроскопии установлены новые данные, позволяющие расширить представление о сложных процессах разрушения костной ткани в результате взаимодействия ее с высокоскоростным ранящим огнестрельным снарядом. Полученные результаты открывают новые научные перспективы в изучении огнестрельной травмы и существенно расширяют возможности судебно-медицинского эксперта в решении таких диагностических задач, как доказательство огнестрельного происхождения повреждения, установление свойств ранящего снаряда (прежде всего энергетических), определение объема огнестрельной травмы. Доп.точки доступа: Гайдаш, А. А.; Баширов, Р. С.; Колкутин, В. В.; Толмачев, И. А.; Тюрин, М. В.; Божченко, А. П.; Денисов, А. В. Нет сведений об экземплярах (Нет сведений об источнике) |
Оценка количественных параметров иммобилизации олигонуклеотидов на поверхности слюды [Текст] / Т. Н. Шарипов [и др. ]> // Вестник Башкирского университета. - 2010. - Т. 15, N 4. - С. 1112-1114 : ил. - Библиогр.: с. 1114 (15 назв. )
Рубрики: Биология Общая биофизика Кл.слова (ненормированные): олигонуклеотиды -- слюда -- иммобилизация -- атомно-силовая микроскопия -- нуклеиновые кислоты -- одиночные молекулы -- труды БашГУ Аннотация: Представлены результаты исследования агрегации олигонуклеотидов различной длины на поверхности слюды. Доп.точки доступа: Шарипов, Т. Н.; Талипов, Р. Ф.; Гарафутдинов, Р. Р.; Бахтизин, Р. З. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Косульников, В. В. Виртуальный атомно-силовой микроскоп [Текст] / В. В. Косульников, В. В. Мизуглин, Р. М. Кадушников> // Дистанционное и виртуальное обучение. - 2012. - № 1. - С. 91-104. - Библиогр.: с. 103-104 (14 назв. ) . - ISSN 1561-2449
Рубрики: Вычислительная техника Программирование ЭВМ. Компьютерные программы. Программотехника Кл.слова (ненормированные): атомно-силовой микроскоп -- виртуальный микроскоп -- виртуальные приборы -- программные комплексы -- атомно-силовая микроскопия -- анализ изображений -- математические модели -- виртуальные технологии Аннотация: Представлен один из методов моделирования работы атомно-силового микроскопа. Доп.точки доступа: Мизуглин, В. В.; Кадушников, Р. М. (кандидат физико-математических наук) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Исследование топологии интегральных микросхем методом атомно-силовой микроскопии [Текст] / В. А. Пилипенко [и др. ]> // Вестник Белорусского государственного университета. Сер. 1, Физика. Математика. Информатика. - 2012. - № 1. - С. 17-20. - Библиогр.: с. 20 (4 назв. ) . - ISSN 0321-0367
Рубрики: Радиоэлектроника Электроника в целом Кл.слова (ненормированные): интегральные схемы -- микроэлектроника -- микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- технологический контроль -- визуальный контроль -- микрорельеф типологических структур -- типологические структуры Аннотация: Эффективность метода атомно-силовой микроскопии в осуществлении метрологических измерений типологических слоев серийно выпускаемых ИМС. Доп.точки доступа: Пилипенко, Владимир Александрович (доктор технических наук); Чижик, Сергей Антонович (доктор технических наук); Понарядов, Владимир Васильевич (кандидат физико-математических наук); Петлицкая, Татьяна Владимировна (кандидат технических наук); Кузнецова, Татьяна Анатольевна (кандидат технических наук) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Морфология поверхности и кристаллографические свойства пленок GaAs, выращенных методом МЛЭ на вицинальных подложках Si(001) [Текст] / Е. А. Емельянов [и др.]> // Известия вузов. Физика. - 2013. - Т. 56, № 1. - С. 49-54 : рис. - Библиогр.: c. 54 (10 назв. ) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Энергетика Полупроводниковые материалы и изделия Кл.слова (ненормированные): атомно-силовая микроскопия -- вицинальная подложка -- кристаллографические свойства пленок -- метод МЛЭ -- молекулярно-лучевая эпитаксия -- морфология поверхности -- эпитаксиальные пленки -- эпитаксия Аннотация: Методом молекулярно-лучевой эпитаксии (МЛЭ) выращены пленки GaAs на подложках Si, отклоненных от плоскости (001) на 6° в направлении. Пленки GaAs выращивались как на поверхности Si, терминированной атомами мышьяка, так и на тонких псевдоморфных слоях GaP/Si. Зарождение слоев GaAs осуществлялось методом атомно-слоевой эпитаксии при низкой температуре. Выращенные структуры различались кристаллографической ориентацией пленки GaAs относительно направления отклонения подложки. Методами рентгеновской дифрактометрии и атомно-силовой микроскопии (АСМ) проведены исследования выращенных структур. Доп.точки доступа: Емельянов, Е. А.; Коханенко, А. П.; Пчеляков, О. П.; Лошкарев, И. Д.; Селезнев, В. А.; Путято, М. А.; Семягин, Б. Р.; Преображенский, В. В.; Zhicuan Niu; Haiqiao Ni Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Белоусова, О. Д. Перспективы применения методов сканирующей зондовой микроскопии в судебно-медицинских исследованиях [Текст] = The use of scanning probe microscopy in forensic medicine studies / О. Д. Белоусова, И. А. Толмачев, А. А. Гайдаш> // Судебно-медицинская экспертиза. - 2013. - № 2. - С. 47-51. - Библиогр.: с. 50-51 (34 назв.) . - ISSN 0039-4521
Рубрики: Здравоохранение. Медицинские науки Судебная медицина Кл.слова (ненормированные): атомно-силовая микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- судебная медицина -- электронная микроскопия -- эритроциты Аннотация: Сканирующая зондовая микроскопия - один из мощных современных методов исследования морфологических и локальных свойств поверхности твердого тела с высоким пространственным разрешением. Авторы приводят данные о разноцелевом применении методов сканирующей зондовой микроскопии в судебно-медицинской практике. Доп.точки доступа: Толмачев, И. А. (доктор медицинских наук; профессор); Гайдаш, А. А. (доктор медицинских наук; профессор) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Исследование микрорельефа и измерение механического отклика современных биополимерных шовных материалов при наноиндентировании [Текст] / А. Г. Кучумов [и др.]> // Известия Саратовского университета. Новая серия. Сер.: Математика. Механика. Информатика. - 2013. - Вып. 2, Ч. 1. - С. 69-77 : 7 рис. - Библиогр.: с. 75-76 (30 назв.). - Библиогр. на рус. и англ. яз. . - ISSN 1814-733X
Рубрики: Физика Математическая физика Здравоохранение. Медицинские науки Хирургия в целом Кл.слова (ненормированные): АСМ -- Хёрста показатель -- атомно-силовая микроскопия -- биополимеры -- наноиндентирование -- показатель Хёрста -- хирургические нити -- шовные материалы Аннотация: Исследованы качества и свойства современных шовных материалов (хирургических нитей). Доп.точки доступа: Кучумов, А. Г. (кандидат физико-математических наук; доцент); Солодько, В. Н. (аспирант); Самарцев, В. А. (доктор медицинских наук); Гаврилов, В. А.; Чайкина, Е. С. (магистрант) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Определение химических характеристик фармацевтических образцов методом конфокальной рамановской микроскопии и корреляционными методами [Текст] / Диинг Т. [и др.]> // Фармация. - 2016. - Т. 65, № 7. - С. 36-40. - Библиогр.: с. 40 (7 назв.) . - ISSN 0367-3014
Рубрики: Здравоохранение. Медицинские науки Фармакология Кл.слова (ненормированные): атомно-силовая микроскопия -- конфокальная рамановская визуализация -- корреляционная микроскопия -- спектроскопия -- химические характеристики Аннотация: Рассматривается конфокальная рамановская микроскопия как аналитический метод для качественного и количественного исследования химического состава образца и визуализации его распределения внутри образца; приводятся разнообразные примеры из фармацевтической отрасли. Доп.точки доступа: Диинг, Т.; Фишер, Х.; Хольрихер, К.; Хольрихер, О.; Ибах, В.; Шмидт, У.; Бройнингер, С. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Гаришин, О. К. Особенности исследования состояния связующего около частиц наполнителя в эластомерных композитах с помощью атомно-силового микроскопа [Текст] / О. К. Гаришин, Р. В. Изюмов , А. Л. Свистков> // Вестник Пермского университета. Сер.: Юридические науки. - 2018. - Вып. 1 (39). - С. 36-45. - Библиогр.: с. 43-44 (34 назв.) . - ISSN 1994-3598
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): атомно-силовая микроскопия -- нанонаполнители -- наноструктуры -- эластомерные композиты Аннотация: Атомно-силовая микроскопия (АСМ) является одним из наиболее перспективных методов исследования структуры материалов на микро и наноуровне, а также их локальных физико-механических свойств. Поскольку получаемые с помощью АСМ экспериментальные данные малоинформативны, требуется их дальнейшая теоретическая расшифровка с привлечением различных математических и физических моделей. В статье приводятся методика математической обработки таких экспериментальных данных, позволяющая существенно повысить точность их расшифровки. Доп.точки доступа: Изюмов, Р. В.; Свистков, А. Л. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |
Логинов, Борис Альбертович. Новые возможности в преподавании курсов по зондовой микроскопии и нанотехнологиям [Текст] = Learning Courses on Scanning Probe Microscopy: New Opportunities / Б. А. Логинов> // Физическое образование в вузах. - 2017. - Т. 23, № 4. - С. 71-78 : рис. - Библиогр.: с. 77-78 (7 назв.) . - ISSN 1609-3143
Рубрики: Образование. Педагогика Высшее профессиональное образование Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): СММ-2000 -- атомно-силовая микроскопия -- зондовая микроскопия -- микроскопы-конструкторы -- нанотехнологии -- преподавание физики -- сканирующая туннельная микроскопия -- электронные микроскопы Аннотация: Ставшее уже традиционным преподавание курсов по зондовой микроскопии для студентов и старших школьников с появлением новых отечественных микроскопов-конструкторов марки "СММ-2000" пополнилось новыми педагогическими приёмами. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |