Научная библиотека СГЮА

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

Книги фонда НБ СГЮА

Дипломные работы выпускников СГЮА за последние 5 лет

Авторефераты

Диссертации

Период.издания науч.абонемента

Редкие книги Научной библиотеки СГЮА

Каталог электронных носителей

Труды ученых СГЮА

Саратовский край

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=атомно-силовая микроскопия<.>)

Общее количество найденных документов : 11
Показаны документы с 1 по 11

Петров, А. Б.
Исследование поверхностных сил в полуконтактном режиме атомно-силового микроскопа [Текст] / А. Б. Петров // Вестник Башкирского университета. - 2006. - N 4. - С. . 22-25. - Библиогр.: с. 25 (10 назв. ). - s, 2006, , rus. - RUMARS-vbau06_000_004_0022_1. - Библиотека Башкирского государственного университета. - N 4. - С. 22-25. - vbau06_000_004_0022_1, 4, 22-25

УДК

^a538.9

ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
АСМ -- атомно-силовая микроскопия -- микроскопы -- атомно-силовые микроскопы -- поверхностные силы -- ПКР -- полуконтактный режим -- уравнения -- таблицы
Аннотация: Теоретически рассмотрен вопрос об определении координатной зависимости от поверхностных сил по результатам измерений в полуконтактном режиме атомно-силового микроскопа.

Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Новые данные о морфогенезе огнестрельных повреждений костей [Текст] = New data on morphogenesis of gunshot injuries to the bone / А. А. Гайдаш [и др. ] // Судебно-медицинская экспертиза. - 2010. - N 4. - С. 4-7. - Библиогр.: с. 7 (5 назв. )

УДК

^a340.6

ББК 58.1
Рубрики: Здравоохранение. Медицинские науки
Судебная медицина
Кл.слова (ненормированные):
огнестрельная травма -- огнестрельный перелом -- атомно-силовая микроскопия -- растровая микроскопия -- ударно-волновой механизм разрушения
Аннотация: На основании проведенных исследований с использованием атомно-силовой и растровой микроскопии установлены новые данные, позволяющие расширить представление о сложных процессах разрушения костной ткани в результате взаимодействия ее с высокоскоростным ранящим огнестрельным снарядом. Полученные результаты открывают новые научные перспективы в изучении огнестрельной травмы и существенно расширяют возможности судебно-медицинского эксперта в решении таких диагностических задач, как доказательство огнестрельного происхождения повреждения, установление свойств ранящего снаряда (прежде всего энергетических), определение объема огнестрельной травмы.

Доп.точки доступа:
Гайдаш, А. А.; Баширов, Р. С.; Колкутин, В. В.; Толмачев, И. А.; Тюрин, М. В.; Божченко, А. П.; Денисов, А. В.
Нет сведений об экземплярах (Нет сведений об источнике)

Найти похожие

Оценка количественных параметров иммобилизации олигонуклеотидов на поверхности слюды [Текст] / Т. Н. Шарипов [и др. ] // Вестник Башкирского университета. - 2010. - Т. 15, N 4. - С. 1112-1114 : ил. - Библиогр.: с. 1114 (15 назв. )

УДК

^a577.3

ББК 28.071
Рубрики: Биология
Общая биофизика
Кл.слова (ненормированные):
олигонуклеотиды -- слюда -- иммобилизация -- атомно-силовая микроскопия -- нуклеиновые кислоты -- одиночные молекулы -- труды БашГУ
Аннотация: Представлены результаты исследования агрегации олигонуклеотидов различной длины на поверхности слюды.

Доп.точки доступа:
Шарипов, Т. Н.; Талипов, Р. Ф.; Гарафутдинов, Р. Р.; Бахтизин, Р. З.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Косульников, В. В.
Виртуальный атомно-силовой микроскоп [Текст] / В. В. Косульников, В. В. Мизуглин, Р. М. Кадушников // Дистанционное и виртуальное обучение. - 2012. - № 1. - С. 91-104. - Библиогр.: с. 103-104 (14 назв. ) . - ISSN 1561-2449

УДК

^a004.41/.42

ББК 32.973-018
Рубрики: Вычислительная техника
Программирование ЭВМ. Компьютерные программы. Программотехника
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовой микроскоп -- виртуальный микроскоп -- виртуальные приборы -- программные комплексы -- атомно-силовая микроскопия -- анализ изображений -- математические модели -- виртуальные технологии
Аннотация: Представлен один из методов моделирования работы атомно-силового микроскопа.

Доп.точки доступа:
Мизуглин, В. В.; Кадушников, Р. М. (кандидат физико-математических наук)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Исследование топологии интегральных микросхем методом атомно-силовой микроскопии [Текст] / В. А. Пилипенко [и др. ] // Вестник Белорусского государственного университета. Сер. 1, Физика. Математика. Информатика. - 2012. - № 1. - С. 17-20. - Библиогр.: с. 20 (4 назв. ) . - ISSN 0321-0367

УДК

^a621.38

ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
Электроника в целом
Кл.слова (ненормированные):
интегральные схемы -- микроэлектроника -- микроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- технологический контроль -- визуальный контроль -- микрорельеф типологических структур -- типологические структуры
Аннотация: Эффективность метода атомно-силовой микроскопии в осуществлении метрологических измерений типологических слоев серийно выпускаемых ИМС.

Доп.точки доступа:
Пилипенко, Владимир Александрович (доктор технических наук); Чижик, Сергей Антонович (доктор технических наук); Понарядов, Владимир Васильевич (кандидат физико-математических наук); Петлицкая, Татьяна Владимировна (кандидат технических наук); Кузнецова, Татьяна Анатольевна (кандидат технических наук)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Морфология поверхности и кристаллографические свойства пленок GaAs, выращенных методом МЛЭ на вицинальных подложках Si(001) [Текст] / Е. А. Емельянов [и др.] // Известия вузов. Физика. - 2013. - Т. 56, № 1. - С. 49-54 : рис. - Библиогр.: c. 54 (10 назв. ) . - ISSN 0021-3411

УДК

^a621.315.592

ББК 31.233
Рубрики: Энергетика
Полупроводниковые материалы и изделия
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- вицинальная подложка -- кристаллографические свойства пленок -- метод МЛЭ -- молекулярно-лучевая эпитаксия -- морфология поверхности -- эпитаксиальные пленки -- эпитаксия
Аннотация: Методом молекулярно-лучевой эпитаксии (МЛЭ) выращены пленки GaAs на подложках Si, отклоненных от плоскости (001) на 6° в направлении. Пленки GaAs выращивались как на поверхности Si, терминированной атомами мышьяка, так и на тонких псевдоморфных слоях GaP/Si. Зарождение слоев GaAs осуществлялось методом атомно-слоевой эпитаксии при низкой температуре. Выращенные структуры различались кристаллографической ориентацией пленки GaAs относительно направления отклонения подложки. Методами рентгеновской дифрактометрии и атомно-силовой микроскопии (АСМ) проведены исследования выращенных структур.

Доп.точки доступа:
Емельянов, Е. А.; Коханенко, А. П.; Пчеляков, О. П.; Лошкарев, И. Д.; Селезнев, В. А.; Путято, М. А.; Семягин, Б. Р.; Преображенский, В. В.; Zhicuan Niu; Haiqiao Ni
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Белоусова, О. Д.
Перспективы применения методов сканирующей зондовой микроскопии в судебно-медицинских исследованиях [Текст] = The use of scanning probe microscopy in forensic medicine studies / О. Д. Белоусова, И. А. Толмачев, А. А. Гайдаш // Судебно-медицинская экспертиза. - 2013. - № 2. - С. 47-51. - Библиогр.: с. 50-51 (34 назв.) . - ISSN 0039-4521

УДК

^a340.6

ББК 58.1
Рубрики: Здравоохранение. Медицинские науки
Судебная медицина
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- сканирующая зондовая микроскопия -- судебная медицина -- электронная микроскопия -- эритроциты
Аннотация: Сканирующая зондовая микроскопия - один из мощных современных методов исследования морфологических и локальных свойств поверхности твердого тела с высоким пространственным разрешением. Авторы приводят данные о разноцелевом применении методов сканирующей зондовой микроскопии в судебно-медицинской практике.

Доп.точки доступа:
Толмачев, И. А. (доктор медицинских наук; профессор); Гайдаш, А. А. (доктор медицинских наук; профессор)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Исследование микрорельефа и измерение механического отклика современных биополимерных шовных материалов при наноиндентировании [Текст] / А. Г. Кучумов [и др.] // Известия Саратовского университета. Новая серия. Сер.: Математика. Механика. Информатика. - 2013. - Вып. 2, Ч. 1. - С. 69-77 : 7 рис. - Библиогр.: с. 75-76 (30 назв.). - Библиогр. на рус. и англ. яз. . - ISSN 1814-733X

УДК

^a53:51

^a617-089

ББК 22.311 + 54.5
Рубрики: Физика
   Математическая физика
   Здравоохранение. Медицинские науки
   Хирургия в целом
Кл.слова (ненормированные):
АСМ -- Хёрста показатель -- атомно-силовая микроскопия -- биополимеры -- наноиндентирование -- показатель Хёрста -- хирургические нити -- шовные материалы
Аннотация: Исследованы качества и свойства современных шовных материалов (хирургических нитей).

Доп.точки доступа:
Кучумов, А. Г. (кандидат физико-математических наук; доцент); Солодько, В. Н. (аспирант); Самарцев, В. А. (доктор медицинских наук); Гаврилов, В. А.; Чайкина, Е. С. (магистрант)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Определение химических характеристик фармацевтических образцов методом конфокальной рамановской микроскопии и корреляционными методами [Текст] / Диинг Т. [и др.] // Фармация. - 2016. - Т. 65, № 7. - С. 36-40. - Библиогр.: с. 40 (7 назв.) . - ISSN 0367-3014

УДК

^a615.2/3

ББК 52.81
Рубрики: Здравоохранение. Медицинские науки
Фармакология
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- конфокальная рамановская визуализация -- корреляционная микроскопия -- спектроскопия -- химические характеристики
Аннотация: Рассматривается конфокальная рамановская микроскопия как аналитический метод для качественного и количественного исследования химического состава образца и визуализации его распределения внутри образца; приводятся разнообразные примеры из фармацевтической отрасли.

Доп.точки доступа:
Диинг, Т.; Фишер, Х.; Хольрихер, К.; Хольрихер, О.; Ибах, В.; Шмидт, У.; Бройнингер, С.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

10.

Гаришин, О. К.
Особенности исследования состояния связующего около частиц наполнителя в эластомерных композитах с помощью атомно-силового микроскопа [Текст] / О. К. Гаришин, Р. В. Изюмов , А. Л. Свистков // Вестник Пермского университета. Сер.: Юридические науки. - 2018. - Вып. 1 (39). - С. 36-45. - Библиогр.: с. 43-44 (34 назв.) . - ISSN 1994-3598

ГРНТИ	29.19
УДК	^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
атомно-силовая микроскопия -- нанонаполнители -- наноструктуры -- эластомерные композиты
Аннотация: Атомно-силовая микроскопия (АСМ) является одним из наиболее перспективных методов исследования структуры материалов на микро и наноуровне, а также их локальных физико-механических свойств. Поскольку получаемые с помощью АСМ экспериментальные данные малоинформативны, требуется их дальнейшая теоретическая расшифровка с привлечением различных математических и физических моделей. В статье приводятся методика математической обработки таких экспериментальных данных, позволяющая существенно повысить точность их расшифровки.

Доп.точки доступа:
Изюмов, Р. В.; Свистков, А. Л.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

11.

Логинов, Борис Альбертович.
Новые возможности в преподавании курсов по зондовой микроскопии и нанотехнологиям [Текст] = Learning Courses on Scanning Probe Microscopy: New Opportunities / Б. А. Логинов // Физическое образование в вузах. - 2017. - Т. 23, № 4. - С. 71-78 : рис. - Библиогр.: с. 77-78 (7 назв.) . - ISSN 1609-3143

УДК

^a37

ББК 74
Рубрики: Образование. Педагогика
   Высшее профессиональное образование
   Физика
   Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Кл.слова (ненормированные):
СММ-2000 -- атомно-силовая микроскопия -- зондовая микроскопия -- микроскопы-конструкторы -- нанотехнологии -- преподавание физики -- сканирующая туннельная микроскопия -- электронные микроскопы
Аннотация: Ставшее уже традиционным преподавание курсов по зондовой микроскопии для студентов и старших школьников с появлением новых отечественных микроскопов-конструкторов марки "СММ-2000" пополнилось новыми педагогическими приёмами.

Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Тематический навигатор

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)