Трубочкина, Надежда Константиновна (д-р техн. наук ; проф.). Моделирование внутреннего и поверхностного p-n переходов с минимальным топологическим размером 20 нм и электрическим воздействием на электроды [Текст] = Internal and Surface p-n Junctions Simulation With a Minimum 20 nm Topological Size and Electrical Effect on Electrodes / Н. К. Трубочкина // Качество. Инновации. Образование. - 2010. - N 5. - С. 46-56 : 11 рис., 2 табл. - Библиогр.: с. 53, 56 (15 назв. ). - Продолж. следует
Рубрики: Вычислительная техника Перспективные архитектуры Кл.слова (ненормированные): топологические размеры -- электроды -- анализ -- моделирование p-n переходов -- внутренние p-n переходы -- поверхностные p-n переходы -- p-n переходы -- 3D-моделирование -- 2D-моделирование -- уравнение Пуассона -- Пуассона уравнение -- транспортные уравнения -- нанотехнологии Аннотация: Приводятся результаты и качественный анализ 2D и 3D моделирования внутреннего и поверхностного p-n переходов с минимальным топологическим размером 20 нм с электрическим воздействием на электроды. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |