Новая система сканирования FIRAT заменит существующие виды атомных микроскопов [Текст] // Экологический вестник России. - 2007. - N 1. - С. . 13-14. - RUMARS-ekvr07_000_001_0013_1. - Источник: www. membrana. ru
Рубрики: Физика--Оптика Кл.слова (ненормированные): атомные силовые микроскопы -- силовые микроскопы -- микроскопы -- нанотехнологии -- инновационные технологии -- FIRAT (физика) -- системы сканирования FIRAT Аннотация: О новейшей из разработок института технологии Джорджии (США) - "Интегрированном считывающем и активном чувствительном к усилению наконечнике" (атомном микроскопе) , который получает в единственном проходе рельеф образца, его физические и некоторые химические свойства. Доп.точки доступа: Институт технологии Джорджии (США) |