Тихменев, Александр Николаевич (магистр техники и технологии ; аспирант).
    Прогнозирование надежности структурно-сложных радиоэлектронных средств методами имитационного моделирования [Текст] = Reliability Prediction Structural-Difficult Radio-Electronic Devices by Methods of Imitating Modelling / А. Н. Тихменев, В. В. Жаднов // Качество. Инновации. Образование. - 2013. - № 3. - С. 50-56 : 5 рис. - Библиогр.: с. 55 (10 назв.)
УДК
ББК 32
Рубрики: Радиоэлектроника
   Радиоэлектроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
имитационное моделирование -- инженерные расчеты -- надежность радиоэлектронных средств -- отказы радиоэлектронных средств -- радиоэлектронные средства -- расчеты надежности
Аннотация: Описываются модели и возможности специализированного языка описания отказов радиоэлектронных средств на примере нескольких вариантов сложных структур.


Доп.точки доступа:
Жаднов, Валерий Владимирович (кандидат технических наук ; доцент кафедры "Радиоэлектроника и телекоммуникации")
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)