Вакуумный сканирующий туннельный микроскоп для исследования проводящих образцов [Текст] / Алиджанов Э. К. [и др. ] // Вестник Оренбургского государственного университета. - 2007. - N 12. - С. 150-153. - Библиогр.: с. 153 (4 назв. ). - Научная библиотека Государственного образовательного учреждения Высшего профессионального образования Оренбургский Государственный университет. - code, vogu. - year, 2007. - no, 12. - ss, 150. - ad. - d, 2007, ####, 0. - RUMARS-vogu07_no12_ss150_ad1 . - ISSN 1814-6457
Рубрики: Физика Физические приборы и методы физического эксперимента Кл.слова (ненормированные): сканирующий микроскоп -- вакуумный микроскоп -- сканирующий туннельный микроскоп -- туннельный микроскоп -- микроскопы -- электронный микроскоп -- UnderSEM-377 -- JSM-T20 -- растровый электронный микроскоп -- технические характеристики -- контрольно-измерительные инструменты Аннотация: Описываются конструкционные особенности и технические характеристики оригинального вакуумного сканирующего туннельного микроскопа UnderSEM-377, совмещенного с коммерческим растровым электронным микроскопом (JSM-T20). Для созданного комбайна, на примере тестовых образцов, представляющих собой пленки фуллерита и органического полупроводника - 1, 4, 5, 8-нафталинтетракарбоксилдиангидрид, показана возможность исследования топографии поверхности и структуры плотности электронных состояний с латеральным разрешением ~1 нм. Доп.точки доступа: Алиджанов, Э. К.; Домахин, О. А.; Летута, С. Н.; Беспалов, В. А.; Логинов, Б. А. |