Научная библиотека СГЮА

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

Книги фонда НБ СГЮА

Дипломные работы выпускников СГЮА за последние 5 лет

Авторефераты

Диссертации

Период.издания науч.абонемента

Редкие книги Научной библиотеки СГЮА

Каталог электронных носителей

Труды ученых СГЮА

Саратовский край

Область поиска

в найденном

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=фрактальные закономерности<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Гаврилов, А.
Идентификация фрактальных закономерностей на рынке акций [Текст] / А. Гаврилов, Е. Ремезова, Б. Карташов // Рынок ценных бумаг. - 2006. - N 14. - С. . 26-28. - s, 2006, , rus. - RUMARS-rcb_06_000_014_0026_1. - Научная библиотека им. М. М. Бахтина Мордовского госуниверситета им. Н. П. Огарева. - N 14. - С. 26-28. - rcb_06_000_014_0026_1, 14, 26-28

УДК

^a336

ББК 65.26
Рубрики: Экономика--Финансы
Россия
Российская Федерация
Кл.слова (ненормированные):
рынок акций -- рынок ценных бумаг -- метод скользящего фрактала -- фрактальные модели -- фрактальные закономерности
Аннотация: Метод скользящего фрактала прост и удобен для практического применения и позволяет идентифицировать текущие (в режиме он-лайн) фрактальные закономерности. Сферой его применения может быть не только рынок ценных бумаг, но и другие области.

Доп.точки доступа:
Ремезова, Е.; Карташов, Б.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Масловская, Анна Геннадьевна (кандидат физико-математических наук; докторант; доцент кафедры МАиМ).
Расчет скейлинговых характеристик РЭМ-изображений доменных структур сегнетоэлектриков методом фрактальной параметризации [Текст] / А. Г. Масловская, Т. К. Барабаш // Вестник Амурского государственного университета. - 2011. - Вып. 55: Сер. Естеств. и экон. науки. - С. 35-42 : рис. - Библиогр.: с. 41-42 (12 назв. ) . - ISSN 2073-0268

УДК

^a537

^a519.7

ББК 537 + 22.18
Рубрики: Физика
   Электричество и магнетизм в целом
   Математика
   Математическая кибернетика
Кл.слова (ненормированные):
сегнетоэлектрики -- доменные структуры сегнетоэлектриков -- фрактальные методы -- мультифрактальные методы -- рэм-изображения -- анализ изображений -- скейлинговые характеристики -- методы фрактальной параметризации -- кластеры -- алгоритмы анализа изображений -- фрактальные закономерности
Аннотация: Рассмотрены вопросы применения и мультифрактальных методов для анализа скейлинговых характеристик бинарных изображений доменных структур сегнетоэлектриков. В ППП Matlab реализованы алгоритмы фрактальной параметризации, основанные на покрытии изображения квадратными кластерами. Представлены результаты расчета скейлинговых характеристик для РЭМ-изображения доменной структуры сегнетоэлектрического кристалла ТГС.

Доп.точки доступа:
Барабаш, Татьяна Константиновна (ассистент кафедры МАиМ)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Тематический навигатор

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)