Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска
Книги фонда НБ СГЮА
Дипломные работы выпускников СГЮА за последние 5 лет
Авторефераты
Диссертации
Период.издания науч.абонемента
Редкие книги Научной библиотеки СГЮА
Каталог электронных носителей
Труды ученых СГЮА
Саратовский край
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>S=Измерение механических и геометрических величин<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


    Чепасов, В. И.
    Генерация наборов калиброванных размеров с использованием регрессионных ограничений [Текст] / В. И. Чепасов, А. А. Муллабаев, А. П. Фот // Вестник Оренбургского государственного университета. - 2011. - N 4, апрель. - С. 179-185. - Библиогр.: с. 185 (2 назв. ) . - ISSN 1814-6457
УДК
^a531.7
ББК 22.21
Рубрики: Механика
   Измерение механических и геометрических величин
Кл.слова (ненормированные):
оптимум -- регрессия -- генерация калиброванных размеров -- выходной массив калиброванных размеров -- генерация наборов калиброванных размеров -- регрессионные ограничения -- размеры мер набора
Аннотация: Рассматривается методика генерации исходного массива калиброванных размеров для получения выходного массива калиброванных размеров (составленных с использованием размеров мер набора) с оптимальными характеристиками.


Доп.точки доступа:
Муллабаев, А. А.; Фот, А. П.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие
2.


    Казаков, Олег Григорьевич (доцент; кандидат химических наук; доцент).
    Влияние геометрии полупроводниковых пластин на их качество [Текст] = The Influence of the Geometry of Semiconductor Wafers on Their Quality / О. Г. Казаков, А. В. Радьков, А. А. Малаханов // Качество. Инновации. Образование. - 2020. - № 3. - С. 32-36 : 3 рис. - Библиогр.: с. 35 (4 назв.) . - ISSN 1999-513Х
УДК
^a531.7
^a66
ББК 22.21 + 35
Рубрики: Механика
   Измерение механических и геометрических величин
   Химическая технология
   Общие вопросы химической технологии
Кл.слова (ненормированные):
внутренние напряжения -- кремний -- механическая обработка -- механическая прочность -- микротрещины -- неоднородность -- осесимметричные изгибы -- полупроводниковые пластины
Аннотация: В статье рассматривается механическая прочность и ее распределение по площади кремниевых пластин. Результаты работы показали, что прочность кремниевых пластин неоднородна по их поверхности, причем при увеличении диаметра неоднородность усиливается.


Доп.точки доступа:
Радьков, Арсений Владимирович (преподаватель); Малаханов, Алексей Алексеевич (доцент; заведующий кафедрой; кандидат технических наук)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)