Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>A=Масловская, Анна Геннадьевна$<.>)
Общее количество найденных документов : 4
Показаны документы с 1 по 4
1.


    Барабаш, Татьяна Константиновна (ассистент каф. МАиМ).
    Компьютерное моделирование фрактальных временных рядов [Текст] / Т. К. Барабаш, А. Г. Масловская // Вестник Амурского государственного университета. - 2010. - Вып. 49: Сер. Естеств. и экон. науки. - С. 31-38. - Библиогр.: с. 37-38 (16 назв. ) . - ISSN 2073-0268
УДК
ББК 32.973-018.2
Рубрики: Вычислительная техника
   Имитационное компьютерное моделирование

Кл.слова (ненормированные):
временные ряды -- фрактальные временные ряды -- компьютерное моделирование -- анализ временных рядов -- фрактальные кривые -- метод Фурье -- Фурье метод -- метод Ричардсона -- Ричардсона метод -- метод Корчака -- Корчака метод -- метод Расса -- Расса метод -- метод R/S-анализа -- R/S-анализ -- аппроксимация -- линейная аппроксимация
Аннотация: В данной работе приводится описание различных методов компьютерного моделирования широкого класса временных фрактальных объектов, изложены методы математического анализа фрактальной размерности виртуальных и реальных временных рядов и их сравнительный анализ, а также представлены результаты программного расчета фрактальной размерности временного ряда на основе методики R/S -анализа (на примере прикладной задачи).


Доп.точки доступа:
Масловская, Анна Геннадьевна (канд. физ. -мат. наук; доц. каф. МАиМ)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

2.


    Масловская, Анна Геннадьевна (кандидат физико-математических наук, доцент кафедры ТиЭФ).
    Применение вейвлет-преобразования для цифровой обработки токов переполяризации сегнетоэлектриков с самоподобной структурой [Текст] / А. Г. Масловская, Т. К. Барабаш, А. И. Бурдина // Вестник Амурского государственного университета. - 2011. - Вып. 53: Сер. Естеств. и экон. науки. - С. 42-49 : рис. - Библиогр.: с. 48-49 (10 назв. ) . - ISSN 2073-0268
УДК
ББК 22.331
Рубрики: Физика
   Электростатика

Кл.слова (ненормированные):
вейвлет-преобразования -- нестационарные сигналы -- вейвлет-анализ -- программные приложения -- мультифрактальные характеристики -- сегнетоэлектрики -- вейвлет-коэффициенты -- поляризация -- токи переключения поляризации -- сложные сигналы -- цифровая обработка токов -- преобразование Фурье -- Фурье преобразование -- преобразование Шеннона -- Шеннона преобразование
Аннотация: В данной работе рассматривается возможность применения вейвлет-преобразования для мультифрактального анализа сложных сигналов на примере прикладной задачи: расчет фрактальных характеристик процесса переполяризации сегнетоэлектриков с самоподобной доменной структурой по данным временных зависимостей токов переключения поляризации.


Доп.точки доступа:
Барабаш, Татьяна Константиновна (магистрант Амурского гос. ун-та); Бурдина, Анастасия Ивановна (студентка Амур. гос. ун-та)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

3.


    Масловская, Анна Геннадьевна (кандидат физико-математических наук; докторант; доцент кафедры МАиМ).
    Расчет скейлинговых характеристик РЭМ-изображений доменных структур сегнетоэлектриков методом фрактальной параметризации [Текст] / А. Г. Масловская, Т. К. Барабаш // Вестник Амурского государственного университета. - 2011. - Вып. 55: Сер. Естеств. и экон. науки. - С. 35-42 : рис. - Библиогр.: с. 41-42 (12 назв. ) . - ISSN 2073-0268
УДК
ББК 537 + 22.18
Рубрики: Физика
   Электричество и магнетизм в целом

   Математика

   Математическая кибернетика

Кл.слова (ненормированные):
сегнетоэлектрики -- доменные структуры сегнетоэлектриков -- фрактальные методы -- мультифрактальные методы -- рэм-изображения -- анализ изображений -- скейлинговые характеристики -- методы фрактальной параметризации -- кластеры -- алгоритмы анализа изображений -- фрактальные закономерности
Аннотация: Рассмотрены вопросы применения и мультифрактальных методов для анализа скейлинговых характеристик бинарных изображений доменных структур сегнетоэлектриков. В ППП Matlab реализованы алгоритмы фрактальной параметризации, основанные на покрытии изображения квадратными кластерами. Представлены результаты расчета скейлинговых характеристик для РЭМ-изображения доменной структуры сегнетоэлектрического кристалла ТГС.


Доп.точки доступа:
Барабаш, Татьяна Константиновна (ассистент кафедры МАиМ)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

4.


    Масловская, Анна Геннадьевна (кандидат физико-математических наук; докторант; доцент кафедры МАиМ).
    Применение сеточных методов решения эволюционных задач для математического моделирования индуцированной электронным зондом зарядки диэлектриков [Текст] / А. Г. Масловская, А. А. Красновид, А. В. Сивунов // Вестник Амурского государственного университета. - 2011. - Вып. 55: Сер. Естеств. и экон. науки. - С. 43-52 : рис.; табл. - Библиогр.: с. 51-52 (11 назв. ) . - ISSN 2073-0268
УДК
ББК 22.311 + 22.33
Рубрики: Физика
   Математическая физика

   Электричество и магнетизм в целом

Кл.слова (ненормированные):
эволюционные задачи -- диэлектрики -- электронные зонды -- полярные диэлектрики -- зарядка диэлектриков -- микроскопы -- растровые микроскопы -- сеточные методы решения задач -- метод Монте-Карло -- Монте-Карло метод -- математическая модель распределения зарядов
Аннотация: В статье представлены результаты моделирования динамических процессов зарядки полярных диэлектриков в растровом электронном микроскопе. Реализация компьютерной модели основана на совместном численном решении уравнения непрерывности и уравнения Пуассона с учетом собственной радиационно-стимулированной проводимости облученного образца. Первоначальное распределение зарядов определено с помощью метода Монте-Карло. для решения задачи использованы метод конечных разностей и метод конечных элементов, реализуемые в ППП Matlab. Предложенная математическая модель позволяет исследовать динамику процесса зарядки, а также оценить поверхностное значение потенциала при заданных параметрах экспериментального наблюдения.


Доп.точки доступа:
Красновид, Анжелика Андреевна (студентка); Сивунов, Антон Валерьевич (аспирант)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)