Научная библиотека СГЮА

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

Книги фонда НБ СГЮА

Дипломные работы выпускников СГЮА за последние 5 лет

Авторефераты

Диссертации

Период.издания науч.абонемента

Редкие книги Научной библиотеки СГЮА

Каталог электронных носителей

Труды ученых СГЮА

Саратовский край

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Поисковый запрос: (<.>K=технологическая наследственность<.>)

Общее количество найденных документов : 1

Спектрально-волновой анализ технологической наследственности [Текст] = Spectral-Wave Analysis of Technological Heredity / С. И. Досько, С. А. Шептунов, А. Ю. Спасенов и [др.] // Качество. Инновации. Образование. - 2022. - № 5. - С. 26-36 : 17 рис. - Библиогр.: с. 33-34 (10 назв.) . - ISSN 1999-513Х

УДК

^a621.77.016

ББК 34.51/59
Рубрики: Машиностроение
Обработка металлов
Кл.слова (ненормированные):
бесцентровое шлифование -- дискретно-аналитическое преобразование -- машиностроительное производство -- наследственная информация -- передаточная функция формообразования -- пространственно-волновая спектограмма -- профилограммы -- спектрально-волновой анализ -- технологическая диагностика -- технологическая наследственность -- технологические процессы -- технологическое проектирование -- шлифовальные станки
Аннотация: Оценка эффективности использования параметрического спектрально-волнового анализа профилограмм обработанных поверхностей в технологической диагностике и технологическом проектировании на примере операций бесцентрового круглого шлифования, точения и ультразвуковой финишной обработки. В качестве метода исследования используется параметрический спектрально-волновой анализ, основанный на применении дискретно-аналитического преобразования Прони-Фурье. Основным результатом исследования является модель частотной передаточной функции системы формообразования при бесцентровом круглом шлифовании. В результате исследования показано, что параметрический спектрально-волновой анализ профилограмм обработанных поверхностей является эффективным средством диагностики технологического процесса, а также может быть использован в технологическом проектировании.

Доп.точки доступа:
Досько, Сергей Иванович (кандидат технических наук; руководитель лаборатории; доцент); Шептунов, Сергей Александрович (директор; доктор технических наук); Спасенов, Алексей Юрьевич (младший научный сотрудник); Руднев, Сергей Кириллович (младший научный сотрудник)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Тематический навигатор

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)