Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=тестирование электронных устройств<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


    Мосин, С. Г. (канд. техн. наук).
    Структурные решения тестопригодного проектирования заказных интегральных схем [Текст] / С. Г. Мосин // Информационные технологии. - 2008. - N 11. - С. 2-10. - Библиогр.: с. 10 (10 назв. ) . - ISSN 1684-6400
УДК
ББК 32.973-018.2
Рубрики: Вычислительная техника
   Системы обработки численных данных

Кл.слова (ненормированные):
интегральные схемы -- тестирование электронных устройств -- мультиплексоры -- цифровое граничное сканирование -- тестопригодность интегральных схем
Аннотация: Рассмотрены структурные решения, обеспечивающие проектирование тестопригодных заказных интегральных схем.


Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)