Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=тестирование преобразователей<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


    Надеев, Д. Н.
    Моделирование биномиального зависимого закона распределения значений вероятностей ошибок нейросетевых преобразователей для высоконадежной биометрической защиты [Текст] / Д. Н. Надеев // Вопросы защиты информации. - 2008. - N 3. - С. 31-35. - Библиогр.: с. 35 (2 назв. )
УДК
ББК 22.18
Рубрики: Математика
   Математическая кибернетика

Кл.слова (ненормированные):
биометрическая защита информации -- нейросетевые преобразователи -- тестирование преобразователей -- моделирование процессов
Аннотация: Проведены оценки вероятностей ошибок первого и второго рода для неидеальных биометрико-нейросетевых преобразователей с 256 выходами, и построены номограммы зависимости вероятности ошибок "Своего " и "Чужого" от математического ожидания и среднеквадратического отклонения ненормированной меры Хэмминга.


Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)