Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска
Книги фонда НБ СГЮА
Дипломные работы выпускников СГЮА за последние 5 лет
Авторефераты
Диссертации
Период.издания науч.абонемента
Редкие книги Научной библиотеки СГЮА
Каталог электронных носителей
Труды ученых СГЮА
Саратовский край
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=тестирование микросхем<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


    Смирнов, Д. В.
    Измерение высокоимпедансных токов [Текст] / Смирнов Д. В., Новикова Н. А. // Аспирант и соискатель. - 2020. - № 5 (119). - С. 34-36 : табл., рис. - Библиогр.: с. 36 (11 назв.) . - ISSN 1608-9014
УДК
^a681.2
^a681.2
^a621.37/.39
^a621.38
ББК 34.9 + 34.96 + 32 + 32.85
Рубрики: Приборостроение
   Технология приборостроения
   Радиоэлектроника
   Электроника в целом
Кл.слова (ненормированные):
IOZ -- IOZH -- IOZL -- высокоимпедансные токи -- измерительные системы -- методы измерения -- микросхемы -- микросхемы памяти -- тестирование микросхем
Аннотация: Тестирование микросхем памяти направлено на выявление неисправностей при разработке или нарушении технологического производства. Одними из тестируемых параметров являются высокоимпедансные токи.


Доп.точки доступа:
Новикова, Н. А.
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)