Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=сканирующая туннельная микроскопия<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


    Троян, Виктор Иванович (доктор физико-математических наук ; профессор кафедры 78).
    Система удаленного доступа к комплексу по формированию нанокластеров и исследованию их электронных свойств [Текст] = The Remote Access to the System for the Formation of Nanoclusters and the Investigation of Their Electronic Properties / В. И. Троян, М. А. Пушкин, П. В. Борисюк // Качество. Инновации. Образование. - 2011. - N 7. - С. 55-57 : 4 рис. - Библиогр.: с. 57 (2 назв. )
УДК
ББК 32.973-018.2 + 22.3
Рубрики: Вычислительная техника
   Прикладные информационные (компьютерные) технологии в целом

   Физика

   Общие вопросы физики

Кл.слова (ненормированные):
нанокластеры -- оже-электронная спектроскопия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- сканирующая туннельная спектроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия
Аннотация: Дано описание системы удаленного доступа студентов, исследователей, разработчиков к научным установкам и оборудованию. Система включает мультимедийный учебно-научный комплекс с симулятором и набором методических материалов и может быть использована для обеспечения процесса дистанционного обучения и работы на уникальном оборудовании.


Доп.точки доступа:
Пушкин, Михаил Александрович (кандидат физико-математических наук ; доцент кафедры 78); Борисюк, Петр Викторович (кандидат физико-математических наук ; ассистент кафедры 78)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

2.


    Логинов, Борис Альбертович.
    Новые возможности в преподавании курсов по зондовой микроскопии и нанотехнологиям [Текст] = Learning Courses on Scanning Probe Microscopy: New Opportunities / Б. А. Логинов // Физическое образование в вузах. - 2017. - Т. 23, № 4. - С. 71-78 : рис. - Библиогр.: с. 77-78 (7 назв.) . - ISSN 1609-3143
УДК
ББК 74
Рубрики: Образование. Педагогика
   Высшее профессиональное образование

   Физика

   Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях

Кл.слова (ненормированные):
СММ-2000 -- атомно-силовая микроскопия -- зондовая микроскопия -- микроскопы-конструкторы -- нанотехнологии -- преподавание физики -- сканирующая туннельная микроскопия -- электронные микроскопы
Аннотация: Ставшее уже традиционным преподавание курсов по зондовой микроскопии для студентов и старших школьников с появлением новых отечественных микроскопов-конструкторов марки "СММ-2000" пополнилось новыми педагогическими приёмами.

Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)