Научная библиотека СГЮА

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

Книги фонда НБ СГЮА

Дипломные работы выпускников СГЮА за последние 5 лет

Авторефераты

Диссертации

Период.издания науч.абонемента

Редкие книги Научной библиотеки СГЮА

Каталог электронных носителей

Труды ученых СГЮА

Саратовский край

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=растровый электронный микроскоп<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Вакуумный сканирующий туннельный микроскоп для исследования проводящих образцов [Текст] / Алиджанов Э. К. [и др. ] // Вестник Оренбургского государственного университета. - 2007. - N 12. - С. 150-153. - Библиогр.: с. 153 (4 назв. ). - Научная библиотека Государственного образовательного учреждения Высшего профессионального образования Оренбургский Государственный университет. - code, vogu. - year, 2007. - no, 12. - ss, 150. - ad. - d, 2007, ####, 0. - RUMARS-vogu07_no12_ss150_ad1 . - ISSN 1814-6457

УДК

^a53.07

ББК 22.3с
Рубрики: Физика
Физические приборы и методы физического эксперимента
Кл.слова (ненормированные):
сканирующий микроскоп -- вакуумный микроскоп -- сканирующий туннельный микроскоп -- туннельный микроскоп -- микроскопы -- электронный микроскоп -- UnderSEM-377 -- JSM-T20 -- растровый электронный микроскоп -- технические характеристики -- контрольно-измерительные инструменты
Аннотация: Описываются конструкционные особенности и технические характеристики оригинального вакуумного сканирующего туннельного микроскопа UnderSEM-377, совмещенного с коммерческим растровым электронным микроскопом (JSM-T20). Для созданного комбайна, на примере тестовых образцов, представляющих собой пленки фуллерита и органического полупроводника - 1, 4, 5, 8-нафталинтетракарбоксилдиангидрид, показана возможность исследования топографии поверхности и структуры плотности электронных состояний с латеральным разрешением ~1 нм.

Доп.точки доступа:
Алиджанов, Э. К.; Домахин, О. А.; Летута, С. Н.; Беспалов, В. А.; Логинов, Б. А.

Найти похожие

Федоренко, Владимир Александрович (кандидат физико-математических наук; доцент).
Повышение эффективности работы баллистических идентификационных систем за счет применения растровой электронной микроскопии и цифровых технологий [Текст] / В. А. Федоренко, М. В. Корнилов , Е. В. Сидак // Судебная экспертиза. - 2012. - № 3 (31). - С. 70-79. - Библиогр.: с. 79 (3 назв.)

УДК

^a340.6

ББК 67.53
Рубрики: Право
Судебная экспертиза
Кл.слова (ненормированные):
след бойка -- следы на пулях -- баллистическая экспертиза -- автоматические баллистические идентификационные системы -- растровый электронный микроскоп -- электронные микроскопы -- микроскопы -- электронная микроскопия -- цифровые технологии -- оружие
Аннотация: Исследуются достоинства использования в автоматизированных баллистических идентификационных системах цифровых изображений, полученных с помощью растровой электронной микроскопии. Определены основные морфологические типы индивидуальных признаков оружия, отобразившихся на изображениях следов бойков.

Доп.точки доступа:
Корнилов, Максим Вячеславович; Сидак, Елена Владимировна
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

Тематический навигатор

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)