Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=проходные камеры<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


    Новикова, Н. А.
    Автоматизация измерений микросхем с использованием проходной камеры [Текст] / Новикова Н. А., Седых К. В. // Аспирант и соискатель. - 2021. - № 6. - С. 33-35 : 1 рис. - Библиогр.: с. 35 (3 назв. ) . - ISSN 1608-9014
УДК
ББК 32.84
Рубрики: Радиоэлектроника
   Общая радиотехника

Кл.слова (ненормированные):
автоматизация измерений -- актуальные проблемы -- интегральные микросхемы -- проходные камеры -- тестирование -- технологические процессы -- усовершенствование процессов
Аннотация: Рассматривается одна из актуальных проблем - автоматизация процесса измерений интегральных микросхем. Для ускорения тестирования и удешевления стоимости микросхемы производители разрабатывают новые способы усовершенствования технологических процессов. Использование проходной камеры позволяет автоматизировать измерение микросхем.


Доп.точки доступа:
Седых, К. В. (кандидат технических наук; доцент)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)