Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=послойный количественный анализ<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


    Воропай, Евгений Семенович (доктор физико-математических наук).
    Послойный анализ микронных покрытий сверлильного и режущего инструмента методом двухимпульсной лазерной атомно-эмиссионной спектроскопии [Текст] / Е. С. Воропай, Ф. А. Ермалицкий, К. Ф. Ермалицкая // Вестник Белорусского государственного университета. Сер. 1, Физика. Математика. Информатика. - 2012. - № 1. - С. 21-24. - Библиогр.: с. 24 (6 назв. ) . - ISSN 0321-0367
УДК
ББК 22.344
Рубрики: Физика
   Спектроскопия

Кл.слова (ненормированные):
сверлильный инструмент -- режущий инструмент -- микронные покрытия -- PVD-покрытия -- лазерная спектроскопия -- двухимпульсная лазерная спектроскопия -- атомно-эмиссионная спектроскопия -- послойный количественный анализ -- лазерные импульсы
Аннотация: Возможности двухимпульсной лазерной атомно-эмиссионной спектроскопии для послойного анализа PVD-покрытий сверлильного и режущего инструмента.


Доп.точки доступа:
Ермалицкий, Федор Александрович (кандидат физико-математических наук); Ермалицкая, Ксения Федоровна (кандидат физико-математических наук)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)