Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=модели интенсивности отказов<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.


    Артюхова, Майя Александровна (магистр техники и технологии; аспирант).
    Прогнозирование надежности радиоэлектронных систем космических аппаратов при воздействии ионизирующего излучения [Текст] = Reliability Prediction of Radio-Electronic Systems of Spacecrafts at Ionizing Radiation Influence / М. А. Артюхова // Качество. Инновации. Образование. - 2014. - № 2. - С. 46-50 : 4 рис. - Библиогр.: с. 49-50 (7 назв.)
УДК
ББК 32
Рубрики: Радиоэлектроника
   Радиоэлектроника в целом

Кл.слова (ненормированные):
излучения -- интегральные микросхемы -- ионизирующие излучения -- космические аппараты -- микросхемы -- модели интенсивности отказов -- надежность -- низкоинтенсивное излучение -- прогнозирование надежности -- радиоэлектронные космические аппараты -- радиоэлектронные системы
Аннотация: О вопросах расчетной оценки вероятности безотказной работы радиоэлектронных космических аппаратов при воздействии низкоинтенсивного космического пространства. Приводится описание характеристик ионизирующих излучений и методов расчета накопленной дозы. Показаны основные этапы формирования модели интенсивности отказов интегральных микросхем при воздействии низкоинтенсивного излучения.

Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)