Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска
Книги фонда НБ СГЮА
Дипломные работы выпускников СГЮА за последние 5 лет
Авторефераты
Диссертации
Период.издания науч.абонемента
Редкие книги Научной библиотеки СГЮА
Каталог электронных носителей
Труды ученых СГЮА
Саратовский край
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=алгоритмы анализа изображений<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.


    Рузайкин, Г. И.
    Распознавание документов - инновации не закончились [Текст] / Г. И. Рузайкин // Мир ПК. - 2011. - N 10. - С. 16-17 : ил. . - ISSN 0235-3520
УДК
^a004.93
ББК 32.973-018.2
Рубрики: Вычислительная техника
   Распознавание и преобразование образов
Кл.слова (ненормированные):
форматы файлов -- pdf-формат -- алгоритмы анализа изображений -- анализ изображений
Аннотация: В результате использования новых алгоритмов анализа изображений можно сохранить документы в виде pdf-файлов, имеющих объем в 3-4 раза меньше, чем у файлов в JPEG-формате и иных.

Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие
2.


    Масловская, Анна Геннадьевна (кандидат физико-математических наук; докторант; доцент кафедры МАиМ).
    Расчет скейлинговых характеристик РЭМ-изображений доменных структур сегнетоэлектриков методом фрактальной параметризации [Текст] / А. Г. Масловская, Т. К. Барабаш // Вестник Амурского государственного университета. - 2011. - Вып. 55: Сер. Естеств. и экон. науки. - С. 35-42 : рис. - Библиогр.: с. 41-42 (12 назв. ) . - ISSN 2073-0268
УДК
^a537
^a519.7
ББК 537 + 22.18
Рубрики: Физика
   Электричество и магнетизм в целом
   Математика
   Математическая кибернетика
Кл.слова (ненормированные):
сегнетоэлектрики -- доменные структуры сегнетоэлектриков -- фрактальные методы -- мультифрактальные методы -- рэм-изображения -- анализ изображений -- скейлинговые характеристики -- методы фрактальной параметризации -- кластеры -- алгоритмы анализа изображений -- фрактальные закономерности
Аннотация: Рассмотрены вопросы применения и мультифрактальных методов для анализа скейлинговых характеристик бинарных изображений доменных структур сегнетоэлектриков. В ППП Matlab реализованы алгоритмы фрактальной параметризации, основанные на покрытии изображения квадратными кластерами. Представлены результаты расчета скейлинговых характеристик для РЭМ-изображения доменной структуры сегнетоэлектрического кристалла ТГС.


Доп.точки доступа:
Барабаш, Татьяна Константиновна (ассистент кафедры МАиМ)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)

Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)