Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска
Книги фонда НБ СГЮА
Дипломные работы выпускников СГЮА за последние 5 лет
Авторефераты
Диссертации
Период.издания науч.абонемента
Редкие книги Научной библиотеки СГЮА
Каталог электронных носителей
Труды ученых СГЮА
Саратовский край
Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=фрактальные закономерности<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Гаврилов А., Ремезова Е., Карташов Б.
Заглавие : Идентификация фрактальных закономерностей на рынке акций
Серия: Рынок акций
Место публикации : Рынок ценных бумаг. - 2006. - N 14. - С. 26-28 (Шифр rcb_/2006/14)
Примечания : s, 2006, , rusRUMARS-rcb_06_000_014_0026_1Научная библиотека им. М. М. Бахтина Мордовского госуниверситета им. Н. П. ОгареваN 14. - С. 26-28rcb_06_000_014_0026_1, 14, 26-28
ISSN: 0869-6608
УДК : 336
ББК : 65.26
Предметные рубрики: Экономика-- Финансы
Географич. рубрики: Россия
Российская Федерация
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): рынок акций--рынок ценных бумаг--метод скользящего фрактала--фрактальные модели--фрактальные закономерности
Аннотация: Метод скользящего фрактала прост и удобен для практического применения и позволяет идентифицировать текущие (в режиме он-лайн) фрактальные закономерности. Сферой его применения может быть не только рынок ценных бумаг, но и другие области.
Найти похожие
2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Масловская, Анна Геннадьевна (кандидат физико-математических наук; докторант; доцент кафедры МАиМ), Барабаш, Татьяна Константиновна
Заглавие : Расчет скейлинговых характеристик РЭМ-изображений доменных структур сегнетоэлектриков методом фрактальной параметризации
Серия: Физика и материаловедение
Место публикации : Вестник Амурского государственного университета. - 2011. - Вып. 55: Сер. Естеств. и экон. науки. - С.35-42: рис. - ISSN 2073-0268 (Шифр vamg/2011/55). - ISSN 2073-0268
Примечания : Библиогр.: с. 41-42 (12 назв. )
УДК : 537 + 519.7
ББК : 537 + 22.18
Предметные рубрики: Физика
Электричество и магнетизм в целом
Математика
Математическая кибернетика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сегнетоэлектрики--доменные структуры сегнетоэлектриков--фрактальные методы--мультифрактальные методы--рэм-изображения--анализ изображений--скейлинговые характеристики--методы фрактальной параметризации--кластеры--алгоритмы анализа изображений--фрактальные закономерности
Аннотация: Рассмотрены вопросы применения и мультифрактальных методов для анализа скейлинговых характеристик бинарных изображений доменных структур сегнетоэлектриков. В ППП Matlab реализованы алгоритмы фрактальной параметризации, основанные на покрытии изображения квадратными кластерами. Представлены результаты расчета скейлинговых характеристик для РЭМ-изображения доменной структуры сегнетоэлектрического кристалла ТГС.
Найти похожие
 
Стандартный
Расширенный
Профессиональный
Распределенный
По словарю
ГРНТИ-навигатор
УДК-навигатор
ББК-навигатор
Тематический навигатор
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)