Научная библиотека СГЮА

Главная

Упрощенный режим

Описание

Шлюз Z39.50

Базы данных

- результаты поиска

Вид поиска

Книги фонда НБ СГЮА

Дипломные работы выпускников СГЮА за последние 5 лет

Авторефераты

Диссертации

Период.издания науч.абонемента

Редкие книги Научной библиотеки СГЮА

Каталог электронных носителей

Труды ученых СГЮА

Саратовский край

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=наноструктурные покрытия<.>)

Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Погребняк А. Д., Береснев В. М., Бондарь А. В., Каверин М. В., Пономарев А. Г.
Заглавие : Исследование многокомпонентных наноструктурных (Ti-Zr-Hf-V-Nb)N покрытий ядерно-физическими методами анализа до и после термического отжига
Серия: Физика конденсированного состояния
Место публикации : Известия вузов. Физика. - 2013. - Т. 56, № 5. - С.41-50. - ISSN 0021-3411 (Шифр izph/2013/56/5). - ISSN 0021-3411
Примечания : Библиогр.: c. 49-50 (35 назв. )
УДК : 539.1
ББК : 22.38
Предметные рубрики: Физика
Ядерная физика в целом
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): дефекты--многокомпонентные наноструктурные покрытия--многокомпонентные покрытия--наноструктурные покрытия--сегрегация--твердость многокомпонентных наноструктурных покрытий--термический отжиг--термодиффузия атомов
Аннотация: С помощью различных взаимодополняющих методов элементно-структурного анализа, таких, как медленный пучок позитронов (SPB), микропучок протонов (ц-PIXE), микро- и нанопучок электронов (EDS- и SEM-анализ), метод фазово-структурного анализа XRD, метод « - sin{2}» измерений напряженно-деформированного состояния (рентгеновская тензометрия), исследованы многокомпонентные, наноструктурные покрытия из (Ti-Zr-Hf-V-Nb) N толщиной 1, 0-1, 4 мкм, полученные методом Саthodic - Arc - Vapor - Deposition при температуре синтеза 250-300 °С. В данных покрытиях были изучены элементный состав, микроструктура, остаточные напряжения в нанозернах, профили распределения дефектов и атомов по глубине и на поверхности покрытия в 3D-представлении, исследован фазовый состав, напряженно-деформированное состояние, текстура покрытий до и после отжига при Т[отж] = 600 °С и времени отжига = 30 мин. Показано, что можно в значительной степени повысить устойчивость рассматриваемых покрытий к окислению при высокотемпературном отжиге образованием значительного упругого напряженно-деформированного состояния сжатия в покрытии. Было обнаружено перераспределение элементов и дефектов, их сегрегация вблизи границ раздела интерфейсов, вокруг зерен и субзерен за счет термостимулированной диффузии и окончания процесса спинодальной сегрегации, без значительного изменения среднего размера нанозерен.
Найти похожие

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Погребняк А. Д., Береснев В. М., Шпак А. П., Конарский П., Комаров Ф. Ф., Кирик Г. В., Махмудов Н. А., Колесников Д. А., Углов В. В., Соболь О. В., Каверин М. В., Грудницкий В. В.
Заглавие : Влияние параметров осаждения на сверхтвердость и стехиометрию наноструктурных пленок Ti-Hf-Si-N
Серия: Физика конденсированного состояния
Место публикации : Известия вузов. Физика. - 2011. - С.38-45. - ISSN 0021-3411 (Шифр izph/2011/54/11). - ISSN 0021-3411
Примечания : Библиогр.: c. 45 (12 назв. )
УДК : 621.7 + 530.1
ББК : 30.68 + 22.31
Предметные рубрики: Физика
Обработка материалов
Техника
Теоретическая физика
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): ti-hf-si-n--коэффициент трения--материаловедение--модули упругости--наноструктурные пленки ti-hf-si-n--наноструктурные покрытия--сверхтвердые двухфазные наноструктурные покрытия--сверхтвердые покрытия--стехиометрия наноструктурных пленок--твердые наноструктуры--элементный состав
Аннотация: Получены сверхтвердые наноструктурные покрытия (пленки) на основе Ti-Hf-Si-N с высокими физико-механическими свойствами. С помощью ядерных и атомно-физических методов анализа: POP, ВИМС, хромато-масс-спектрометрии, РЭМ с энергодисперсной рентгеновской спектроскопией, дифракционного рентгеновского анализа и наноиндентирования - были исследованы элементный и фазовый состав, морфология этих пленок в зависимости от подаваемого на них потенциала смещения на подложку и давления в камере. Обнаружено, что при уменьшении размера нанозерен nc- (Ti, Hf) N от 6, 7 до 5 нм и формировании a-Si[3]N[4] (аморфной или квазиаморфной фазы как прослойки между нанозернами) возрастает нанотвердость от 42, 7 до 48, 4-1, 6 ГПа, однако дальнейшее уменьшение размера кристаллитов (Ti, Hf) N до 4, 0 приводит к незначительному уменьшению твердости. Определена стехиометрия состава пленки, которая изменяется от (Ti[40]-Hf[9]-Si[7, 5]) N46 до композиции (Ti[28]-Hf[9]-Si[9]) N[45], изменяется также значение параметра решетки твердого раствора (Ti, HON. Следует отметить, что в покрытиях с высокой твердостью коэффициент трения наименьший (0, 2) и его величина не меняется при истирании всей толщины покрытия.
Найти похожие

Тематический навигатор

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)