Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полныйинформационный краткий
Поисковый запрос: (<.>K=мультифрактальные методы<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Масловская А. Г. Расчет скейлинговых характеристик РЭМ-изображений доменных структур сегнетоэлектриков методом фрактальной параметризации/А. Г. Масловская, Т. К. Барабаш // Вестник Амурского государственного университета, 2011,N Вып. 55: Сер. Естеств. и экон. науки.-С.35-42
 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)