Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Поисковый запрос: (<.>K=концентрация атомов кремния<.>)
Общее количество найденных документов : 1
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Казаков, Олег Григорьевич (доцент; кандидат химических наук), Радьков, Арсений Владимирович
Заглавие : Исследование механизма образования микротрещин в кристаллах кремния
Параллельн. заглавия :The Study of the Mechanism of Formation of Microcracks in Silicon Crystals
Серия: Приборы, методы, технологии
Место публикации : Качество. Инновации. Образование. - 2020. - № 6. - С.86-89. - ISSN 1999-513Х (Шифр kaio/2020/6). - ISSN 1999-513Х
Примечания : Библиогр.: с. 88-89 (5 назв.)
УДК : 669
ББК : 34.1
Предметные рубрики: Технология металлов
Общая технология металлов
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): деформация--концентрация атомов акцепторной примеси--концентрация атомов кремния--кремниевые пластины--механическая обработка--механические напряжения--микротрещины--подвижность дырок--полупроводниковые изделия--прочность кремниевых пластин--теория механической прочности--типы микротрещин--трещины--электропроводность--энергия активации примесных уровней
Аннотация: В данной статье представлена теория механической прочности кремниевых пластин. Рассмотрены два типа трещин. Одни образуются в процессе механического нагружения, другие - в процессе механической обработки. Рассмотрено влияние электропроводности на механическую прочность кремниевых пластин.
Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)