Главная Упрощенный режим Описание Шлюз Z39.50
Авторизация
Фамилия
Пароль
 

Базы данных


- результаты поиска

Вид поиска

Область поиска
Формат представления найденных документов:
полный информационныйкраткий
Отсортировать найденные документы по:
авторузаглавиюгоду изданиятипу документа
Поисковый запрос: (<.>K=автоматизация измерений<.>)
Общее количество найденных документов : 2
Показаны документы с 1 по 2
1.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Ермачихин А. В., Литвинов В. Г.
Заглавие : LabVIEW в современной индустрии измерений
Серия: Информационно-измерительные системы
Место публикации : Информационные технологии. - 2014. - № 3. - С.25-29. - ISSN 1684-6400 (Шифр inft/2014/3). - ISSN 1684-6400
Примечания : Библиогр.: с. 29 (25 назв.)
УДК : 004
ББК : 32.97
Предметные рубрики: Вычислительная техника
Вычислительная техника в целом
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): автоматизация измерений--виртуальные приборы--измерительно-аналитические комплексы--инженерно-графическое программирование--научные эксперименты--низкочастотная спектроскопия--объектно-ориентированные среды
Аннотация: Дано краткое описание графической среды программирования LabVIEW, ее истории и вклада в развитие современных лабораторных стендов.
Найти похожие

2.

Вид документа : Статья из журнала
Шифр издания :
Автор(ы) : Новикова Н. А., Седых К. В.
Заглавие : Автоматизация измерений микросхем с использованием проходной камеры
Серия: Технические науки .
    Приборостроение, метрология и информационно-измерительные приборы и системы .
    Приборы и методы измерения
Место публикации : Аспирант и соискатель. - 2021. - № 6. - С.33-35: 1 рис. - ISSN 1608-9014 (Шифр asps/2021/6). - ISSN 1608-9014
Примечания : Библиогр.: с. 35 (3 назв. )
УДК : 621.396
ББК : 32.84
Предметные рубрики: Радиоэлектроника
Общая радиотехника
Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): автоматизация измерений--актуальные проблемы--интегральные микросхемы--проходные камеры--тестирование--технологические процессы--усовершенствование процессов
Аннотация: Рассматривается одна из актуальных проблем - автоматизация процесса измерений интегральных микросхем. Для ускорения тестирования и удешевления стоимости микросхемы производители разрабатывают новые способы усовершенствования технологических процессов. Использование проходной камеры позволяет автоматизировать измерение микросхем.
Найти похожие

 
© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)