Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : Автор(ы) : Смирнов Д. В., Новикова Н. А. Заглавие : Измерение высокоимпедансных токов Серия: Технические науки .     Приборостроение, метрология и информационно-измерительные приборы и системы .     Приборы и методы измерения Место публикации : Аспирант и соискатель. - 2020. - № 5 (119). - С.34-36: табл., рис. - ISSN 1608-9014 (Шифр asps/2020/5). - ISSN 1608-9014 Примечания : Библиогр.: с. 36 (11 назв.) УДК : 681.2 + 681.2 + 621.37/.39 + 621.38 ББК : 34.9 + 34.96 + 32 + 32.85 Предметные рубрики: Приборостроение Технология приборостроения Радиоэлектроника Электроника в целом Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): ioz--iozh--iozl--высокоимпедансные токи--измерительные системы--методы измерения--микросхемы--микросхемы памяти--тестирование микросхем Аннотация: Тестирование микросхем памяти направлено на выявление неисправностей при разработке или нарушении технологического производства. Одними из тестируемых параметров являются высокоимпедансные токи. Доп.точки доступа: Новикова, Н. А.