Вид документа : Статья из журнала Шифр издания : Автор(ы) : Алиджанов Э. К., Домахин О. А., Летута С. Н., Беспалов В. А., Логинов Б. А. Заглавие : Вакуумный сканирующий туннельный микроскоп для исследования проводящих образцов Серия: Физика Место публикации : Вестник Оренбургского государственного университета. - 2007. - N 12. - С.150-153. - ISSN 1814-6457. - ISSN 1814-6457 Примечания : Библиогр.: с. 153 (4 назв. ). - Научная библиотека Государственного образовательного учреждения Высшего профессионального образования Оренбургский Государственный университетcode, voguyear, 2007no, 12ss, 150add, 2007, ####, 0RUMARS-vogu07_no12_ss150_ad1 УДК : 53.07 ББК : 22.3с Предметные рубрики: Физика Физические приборы и методы физического эксперимента Ключевые слова (''Своб.индексиров.''): сканирующий микроскоп--вакуумный микроскоп--сканирующий туннельный микроскоп--туннельный микроскоп--микроскопы--электронный микроскоп--undersem-377--jsm-t20--растровый электронный микроскоп--технические характеристики--контрольно-измерительные инструменты Аннотация: Описываются конструкционные особенности и технические характеристики оригинального вакуумного сканирующего туннельного микроскопа UnderSEM-377, совмещенного с коммерческим растровым электронным микроскопом (JSM-T20). Для созданного комбайна, на примере тестовых образцов, представляющих собой пленки фуллерита и органического полупроводника - 1, 4, 5, 8-нафталинтетракарбоксилдиангидрид, показана возможность исследования топографии поверхности и структуры плотности электронных состояний с латеральным разрешением ~1 нм. Доп.точки доступа: Алиджанов, Э. К.; Домахин, О. А.; Летута, С. Н.; Беспалов, В. А.; Логинов, Б. А.