Новикова, Н. А. Автоматизация измерений микросхем с использованием проходной камеры [Текст] / Новикова Н. А., Седых К. В.> // Аспирант и соискатель. - 2021. - № 6. - С. 33-35 : 1 рис. - Библиогр.: с. 35 (3 назв. ) . - ISSN 1608-9014
Рубрики: Радиоэлектроника Общая радиотехника Кл.слова (ненормированные): автоматизация измерений -- актуальные проблемы -- интегральные микросхемы -- проходные камеры -- тестирование -- технологические процессы -- усовершенствование процессов Аннотация: Рассматривается одна из актуальных проблем - автоматизация процесса измерений интегральных микросхем. Для ускорения тестирования и удешевления стоимости микросхемы производители разрабатывают новые способы усовершенствования технологических процессов. Использование проходной камеры позволяет автоматизировать измерение микросхем. Доп.точки доступа: Седых, К. В. (кандидат технических наук; доцент) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |