Казаков, Олег Григорьевич (кандидат химических наук; доцент).
    Исследование механизма влияния концентрации носителей заряда на механическую прочность кремниевых пластин с дырочной проводимостью [Текст] = The Investigation of the Influence`s Mechanism of the Concentration of Charge Carriers on the Mechanical Strength of Silicon Wafers with Hole Conductivity / О. Г. Казаков, А. В. Радьков, Н. О. Радькова // Качество. Инновации. Образование. - 2022. - № 1. - С. 68-72 : рис., табл. - Библиогр.: с. 71 (5 назв.) . - ISSN 1999-513Х
УДК
ББК 34.1 + 22.317
Рубрики: Технология металлов
   Общая технология металлов

   Физика

   Термодинамика и статистическая физика

Кл.слова (ненормированные):
интенсивность электрических полей -- ковалентная связь -- концентрация дырок -- концентрация носителей заряда -- кремниевые пластины -- механические напряжения -- механическое воздействие -- микротрещины -- осесимметричные изгибы -- энергетическое воздействие -- энергия образования связи
Аннотация: В статье механизм влияния концентрации носителей заряда на механическую прочность кремниевых пластин под механическим воздействием. Рассмотрено влияние величины концентрации дырок на длину микротрещины и механическую прочность кремниевых пластин. При механическом воздействии происходит смещение дефектов структур (дырок) в область более высоких механических напряжений.


Доп.точки доступа:
Радьков, Арсений Владимирович (старший преподаватель); Радькова, Наталья Олеговна (кандидат технических наук; доцент)
Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден)