Смирнов, Д. В. Измерение высокоимпедансных токов [Текст] / Смирнов Д. В., Новикова Н. А.> // Аспирант и соискатель. - 2020. - № 5 (119). - С. 34-36 : табл., рис. - Библиогр.: с. 36 (11 назв.) . - ISSN 1608-9014
Рубрики: Приборостроение Технология приборостроения Радиоэлектроника Электроника в целом Кл.слова (ненормированные): IOZ -- IOZH -- IOZL -- высокоимпедансные токи -- измерительные системы -- методы измерения -- микросхемы -- микросхемы памяти -- тестирование микросхем Аннотация: Тестирование микросхем памяти направлено на выявление неисправностей при разработке или нарушении технологического производства. Одними из тестируемых параметров являются высокоимпедансные токи. Доп.точки доступа: Новикова, Н. А. Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |