Шехтман, Семен Романович (доктор технических наук; доцент). Анализ показателей качества технологического процесса нанесения покрытий получаемых осаждением из вакуумно-дугового разряда [Текст] = Quality Parameters Analysis of the Technological Process of Coating Obtained by Deposition From the Vacuum-ARC Disharge / С. Р. Шехтман, Н. А. Сухова, М. И. Янсаитова // Качество. Инновации. Образование. - 2017. - № 1. - С. 40-45 : 4 рис., 2 табл. - Библиогр.: с. 44 (5 назв.)
Рубрики: Техника Обработка материалов Кл.слова (ненормированные): Исикавы диаграмма -- Парето диаграмма -- вакуумно-дуговые разряды -- диаграмма Исикавы -- диаграмма Парето -- конструкторско-технологическая документация -- система показателей качества изделий -- технологический процесс -- эксплуатация Аннотация: В статье проведен анализ технологического процесса с помощью диаграммы Исикавы. С помощью диаграммы Парето установлены основные факторы. Разработана система показателей качества технологического процесса. Доп.точки доступа: Сухова, Надежда Александровна (кандидат технических наук; доцент); Янсаитова, Милуяша Исмагиловна (аспирант) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |