Воропай, Евгений Семенович (доктор физико-математических наук). Послойный анализ микронных покрытий сверлильного и режущего инструмента методом двухимпульсной лазерной атомно-эмиссионной спектроскопии [Текст] / Е. С. Воропай, Ф. А. Ермалицкий, К. Ф. Ермалицкая // Вестник Белорусского государственного университета. Сер. 1, Физика. Математика. Информатика. - 2012. - № 1. - С. 21-24. - Библиогр.: с. 24 (6 назв. ) . - ISSN 0321-0367
Рубрики: Физика Спектроскопия Кл.слова (ненормированные): сверлильный инструмент -- режущий инструмент -- микронные покрытия -- PVD-покрытия -- лазерная спектроскопия -- двухимпульсная лазерная спектроскопия -- атомно-эмиссионная спектроскопия -- послойный количественный анализ -- лазерные импульсы Аннотация: Возможности двухимпульсной лазерной атомно-эмиссионной спектроскопии для послойного анализа PVD-покрытий сверлильного и режущего инструмента. Доп.точки доступа: Ермалицкий, Федор Александрович (кандидат физико-математических наук); Ермалицкая, Ксения Федоровна (кандидат физико-математических наук) Нет сведений об экземплярах (Источник в БД не найден) |